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材料分析方法教学内容

1. 晶体学基础晶体结构:晶系,点阵,点群,空间群标准投影:转轴(1,2,3,4,6), 镜面 (m),反演 (i),螺旋,滑移Miller指数,晶向,晶族,晶带晶面间距公式:三斜,单斜,菱方,六方倒空间基本理论立体投影:立方晶系晶面投影及转动;乌式网,极式网2. X射线衍射:X射线产生机理,电子跃迁图,X射线与物质的作用:非弹性散射公式推导,质量吸收系数,KLL电子,俄歇光谱。衍射机理:Bragg方程,Ewald球,X射线衍射仪器原理,ICCD卡片晶面指标化:比值法,图解法,解析法消光规律:原子散射因子,结构因子的推导,FCC,BCC,HCP,金刚石;超点阵应用最小二乘法解晶体结构精确确定点阵参数X射线强度,相含量的定量测定方法X射线测应力方法,极图和反极图3. 电子显微分析方法TEM的部件、参数和光路:放大率,分辨率,焦长,景深,电磁透镜厚度衬度,衍射衬度,明场相,暗场相复型和翠取技术电子衍射分析方法:衍射方程,衍射斑点指标化,消光规律,最小二乘方法测定点阵参数。栾晶的测定方法,菊池线的标定方法。薄膜制备和衍射理论SEM的分析方法:电子与物质的作用,背散射电子,二次电子,俄歇电子,透射电子,吸收电子,X射线能量分散图和波长分散图谱探针电子显微镜的工作机理:STM, AFM, MFM,NFSOM
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