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TRI518 ICT Debug

如何制作标准的ICT测试包、ICT、Debug目的、 降低误判率  、减少测试时间。
工具/原料
1

TRI518机台,测试包

2

PCB板子

方法/步骤

1治具的安装 2电路板名称3路径4备注  5测试参数设定   6短路群学习 7零件的debug    8.IC保护二极体的学习。

注意事项
1

注意并联后的电阻值要变化 大电阻或是并联C时用模式2(快速)测试比较稳定, 必要时可加适当的延时 并联D、IC、Q时(1)用模式1(低一档电流源) (2)其他模式,交换高低点也可 10Ω以下的用跳线模式,测试不稳定的用电阻模式 隔离点的选择 :隔离电阻小于等于被测电阻

2

注意并联后的电容值要变化 单个电容测试模式如下: pf级的小电容采用高频信号模式 2,3 nf级的大电容采用低频信号模式 0,1 3uf以上的大电容采用直流测试模式 4,8 并联R或L时,采用AC交流相位模式5、6、7, f 越高越好。 (1)根据Zl=2πfL,故L一定时,若f越高,则Zl越大,则对C影响越小 (2)根据Zc=1/2πfC,故C一定时,若f越高,则Zc越小,则R的影响越小 电容容值越高,AC电压源频率越低,模式越小

3

1.测试小电阻时,可能因测试针的阻抗增大,影响量测测试值的偏移,可适当放宽上限与下限范围 2.对于电感,小于10Ω的电阻采用跳线模式,测试不稳 定的采用电阻模式,上限不能超过25Ω 3.大电容重测次数设定为3次 4.与电容并联时加延时,D放电重测

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