赛默斐视自主研制的SIMV薄膜表面瑕疵检测系统，用于检测各类薄膜产品在生产过程中表面出现的污点、蚊虫、孔洞、杂质等常见缺陷，系统可以在生产过程中及时的发现产品表面出现的疵点信息，实时反映生产线表面的缺陷信息，并进行瑕疵分类处理，完全取代人工肉眼进行瑕疵检测。大大的节省了生产成本，提高了生产效率，保证了薄膜的质量。赛默斐视专业从事图像处理及机器视觉检测应用,能够为企业提供专业的个性化定制和系统的解决方案。
工具/原料
薄膜表面瑕疵检测系统
薄膜表面瑕疵检测系统的功能包括哪些:
1
表面缺陷图像的快速截取；
2
疵点的位置(缺陷地图的具体位置分布)；
3
发现瑕疵后的声光报警；
4
瑕疵自动分类(根据客户对缺陷的要求来分类)；
5
瑕疵统计和报表自动生成；
6
在缺陷产品的边缘进行贴标定位（可选）；
薄膜表面瑕疵检测系统检测原理：
针对透光率高的薄膜材料，赛默斐视simvision薄膜表面瑕疵检测系统采用透射的打光检测方式进行检测，即光源在薄膜的下方，相机在薄膜的上方进行图像拍摄（对于不透明的材料则采用反射的打光方式，即光源与相机在所要检测面的同一侧）。产线运行时，系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测，系统将相机采集到的图像通过SIMV图像分析软件进行瑕疵处理，由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异，从而使得系统能够发现瑕疵，并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。